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X-WR-CALDESC:メトリクスによるソフトウェア品質把握と改
 善 － 演習を交えた品質測定評価の落とし穴とコツの
 習得 －
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SUMMARY:メトリクスによるソフトウェア品質把握と改善 －
  演習を交えた品質測定評価の落とし穴とコツの習得 
 －
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DESCRIPTION:イベント詳細はこちら\nhttps://techplay.jp/event/63116
 9?utm_medium=referral&utm_source=ics&utm_campaign=ics\n\nメトリクス
 によるソフトウェア品質把握と改善 － 演習を交えた
 品質測定評価の落とし穴とコツの習得 －　　講師：鷲
 崎 弘宜 氏　早稲田大学 基幹理工学部情報理工学科 教
 授／グローバルソフトウェアエンジニアリング研究所 
 所長概要ソフトウェアの品質を把握し、管理および改
 善するためには、測定を通じた評価が欠かせません。
 しかし、思慮なく測定評価を導入すると、誤った結論
 を導くなど、かえって悪影響をもたらしかねません。
 本チュートリアルでは、早稲田大学グローバルソフト
 ウェアエンジニアリング研究所が産学官連携により進
 めているソフトウェア品質測定評価の研究および実践
 結果に基づき、得られた知見を4つの「落とし穴」およ
 び7つの「コツ」として整理し解説します。そのうえで
 コツの一つである目標に沿った多面的な測定および事
 実と仮定の区別について、ゴール指向の手法であるGQM
 法（およびGQM+Strategies）の適用を演習を通じて習得し
 ていただきます。今話題のテーマ、一流講師の講座を
 「5\,400円（税込）」で聴講できます！基本の本質を学
 び、見つめ直す場をご提供します。\n\n「ソフトウェア
 品質シンポジウム2017（SQiP2017）」本会議の前日（9月13
 日（水））に今年も「併設チュートリアル」を実施し
 ます。各テーマの一流講師陣による半日のチュートリ
 アルを非常に安価に受講することができる名物企画で
 す。今年はテーマ選定にあたっては、近年の「ソフト
 ウェア品質シンポジウム」で取り上げた話題、参加者
 の皆様の関心が高いテーマを中心に取り上げました。 
 皆様の活動にすぐに活かしていただけるテーマとして
 「テスト技法」「メトリクスを活用した品質測定評価
 」「KPT/KPTA ふりかえり」を選定しました。本シンポジ
 ウムで関心の高いテーマとして「品質データ分析」「
 欠陥エンジニアリング」。最近話題のテーマとして「I
 oT時代のセーフティ設計」「エンタープライズアジャ
 イル」「Webセキュリティ」を用意しました。どのテー
 マも参加いただいた皆様に現場に持ち帰り役立ててい
 ただける内容です。詳細テーマ、講師はシンポジウムW
 ebサイトでご確認ください。※本会議（9月14日（木）
 ・15日（金））は、セブン＆アイHD・粟飯原勝胤取締役
 執行役員が講演！ 　“IoTはどこまで進んでいるか？”
 をテーマにパネル討論も実施。　総勢50社の先進企業
 の取り組み事例が一堂に集結します！ソフトウェア品
 質シンポジウム2017・Webサイトはこちら　https://www.juse.j
 p/sqip/symposium/\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n
LOCATION:東洋大学　白山キャンパス 東京都文京区白山5-28-
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