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X-WR-CALDESC:半導体開発と生産のグローバルオペレーショ
 ン最適化 - NIのエンタープライズソフトウェアソリュ
 ーション
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 ン最適化 - NIのエンタープライズソフトウェアソリュ
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SUMMARY:半導体開発と生産のグローバルオペレーション最
 適化 - NIのエンタープライズソフトウェアソリューシ
 ョン
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DESCRIPTION:イベント詳細はこちら\nhttps://techplay.jp/event/92433
 1?utm_medium=referral&utm_source=ics&utm_campaign=ics\n\nNI 半導体開
 発・量産向けエンタープライズ・ソフトウェア\n概要\n
 この度、NI社では半導体開発及び量産におけるさまざ
 まな問題に対してデータを効率良く収集・解析するた
 めのソリューションセミナーを実施いたします。本セ
 ミナーは半導体のお客様の直面する問題に対してデー
 タを使用して解決を行う使用実例を紹介し、お客様の
 さらなる業務効率向上へお役立ていただきたく企画い
 たしました。弊社オフィスでの対面でのセミナーとな
 りますが多くのお客様にご参加いただきご興味をお持
 ちいただければ幸いです。\nタイムスケジュール\n\n\n\n
 時間\n内容\n\n\n\n\n14:30〜\n受付開始\n\n\n15:00〜15:10\n開会
 のご挨拶日本NI 株式会社　代表取締役　コラーナ マン
 ディップ シング\n\n\n15:10〜16:15\n「半導体ラボを効率的
 に管理するプラットファームの紹介」ソフトウェアソ
 リューション営業本部　カスタマーソリューション部
 　ソリューションアーキテクト　水野　智生\n\n\n16:15
 〜16:45\n「機械学習を利用したウェハ不良パターン分類
 機能の紹介」ソフトウェアソリューション営業本部　
 アプリケーション部シニアアプリケーションエンジニ
 ア　阿部　正晴\n\n\n16:45〜17:15\n「半導体のテスト・組
 立工程におけるデータの体系的管理と活用事例の紹介
 」ソフトウェアソリューション営業本部　アプリケー
 ション部　アプリケーションエンジニア　西野　早智
 子\n\n\n17:20~\n懇親会ささやかな食事とお飲み物を用意
 しております。ご参加の皆様での情報交換の場にして
 いただければ幸いです。\n\n\n\n※ 当日予告なく時間配
 分・内容が変更になる可能性がございます。\nプログ
 ラムのご紹介\n\n「半導体ラボを効率的に管理するプラ
 ットフォームの紹介」\n\nNI社では、半導体のバリデー
 ション工程において、ModernLab Frameworkを活用することで
 、現代ラボの検証工程の複雑化による時間ロスやコス
 トを削減し、より効率的にラボを管理するソリューシ
 ョンを提供しています。このセミナーでは、現代のラ
 ボで発生する課題と原因を明確にし、解決策となる中
 央プラットフォームでのテスト、データ、システム、
 資産管理方法をご紹介いたします。\n\n「機械学習を利
 用したウェハ不良パターン分類機能の紹介」\n\nNI社で
 は、半導体製造工程の異常分析をサポートするソリュ
 ーションの一つとして、過去履歴を機械学習させて生
 成したモデルを基に、半導体ウェハのテスト不良パタ
 ーンを自動判別するツールを開発しております。本セ
 ッションでは、機械学習による分類モデルの生成や実
 際の判定処理の動き、及び処理結果の事例をご紹介い
 たします。\n\n「半導体のテスト・組立工程におけるデ
 ータの体系的管理と活用事例の紹介」\n\nNIでは、半導
 体のテスト工程において、チップIDを活用することで
 、異なるテスタ、工程、ファシリティで実行されたテ
 スト結果を紐づけ、歩留向上や品質改善につながる解
 析方法を提供しています。本セミナーでは、テスト工
 程のデータに加え、組立工程や外観検査工程の情報を
 データベースに取り込み、より体系的にデータを管理
 ・活用するための新しい仕組みとそれを使った解析の
 事例をご紹介いたします。\n参加費\n無料\n注意事項\n\n
 キャンセル待ち・補欠・落選の方はご参加いただくこ
 とが出来ませんのでご了承ください。\n欠席される場
 合は、お手数ですが速やかにキャンセル処理をお願い
 致します。\n
LOCATION:東京カンファレンスセンター品川 ４０６ルーム 
 東京都港区港南１－９－３６
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