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X-WR-CALDESC:データ分析で品質不良の原因を見つける～因
 果探索とは？基本とAI活用法をわかりやすく解説～
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SUMMARY:データ分析で品質不良の原因を見つける～因果探
 索とは？基本とAI活用法をわかりやすく解説～
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DESCRIPTION:イベント詳細はこちら\nhttps://techplay.jp/event/94412
 9?utm_medium=referral&utm_source=ics&utm_campaign=ics\n\n膨大なデー
 タから原因を特定する「因果探索」とは？\n製造・生
 産プロセスが複雑である場合、品質不良の原因を特定
 することは困難です。\nしかし統計手法「因果探索」
 を使えば、多くの要因が絡み合っている場合でも、デ
 ータ間の因果関係を可視化することができます。品質
 問題の原因を特定し、改善策の立案や配合量の調整な
 どに繋げます。\n本セミナーでは、現場でのユースケ
 ースを例に、因果探索の基礎からわかりやすく解説し
 ます。AI活用法も紹介しますので、ぜひお気軽にご参
 加ください！\nこんな方におすすめ\n\n膨大なデータか
 ら原因を見つけたい方\n生産技術・品質管理・研究開
 発を担当している方\nAIを活用して不具合の原因を見つ
 けたい方\n試験データの関係性を可視化したい方\n\n\n
 このセミナーで学べること\n\n因果探索の基本\n品質不
 良を削減する活用例\n因果探索の始め方\nノーコードツ
 ールの活用法\n\n登壇者\n森川利啓\nシステムインテグ
 レーション本部　営業部　課長\n前職は機械設計を担
 当。ニュートラル株式会社設立と同時に入社し、現場
 知識を活かしてSI営業として従事.\n2019年より営業部の
 課長としてNTech Predict販売チームをマネジメント。\n\n\n
 山戸辰彦\nシステムインテグレーション本部　3Dエンジ
 ニアリングソリューション部　部長\nAI予測・因果探索
 ・予知保全ツール「NTech Predict」の開発責任者。\n20年
 以上CAD/CAMの研究開発を行いながら、10年以上データサ
 イエンスに携わる。\n開発した突起検出ツールは特許
 取得。数億ポリゴン超のデータも軽快に表示操作でき
 る「3DViewer」の開発責任者も務める。\n\n参加費\n無料\n
 注意事項\n\nリクルーティング、勧誘など、採用目的で
 のイベント参加はお断りしております。\nキャンセル
 待ち・補欠・落選の方はご参加いただくことが出来ま
 せんのでご了承ください。\n欠席される場合は、お手
 数ですが速やかにキャンセル処理をお願い致します。\
 n無断キャンセルや欠席が続く場合、次回以降の参加を
 お断りさせていただく場合がございます。\n
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