テスト設計コンテストとは

テスト設計コンテストは、ソフトウェアテスト技術の向上と促進の機会を提供する場として、 JaSST‘11 Tokyoより開催しています。

一昨年より、従来のテスト設計コンテストをOPENクラスとし、初心者向けクラスとしてU-30クラスを新設しています。

U-30クラス（対象：30歳以下） OPENクラス（対象：すべて） テスト設計コンテストでは、指定のテストベースに対してテスト設計を行い、その優劣を競います。 OPENクラスは地域予選を行い、勝ち進んだチームで決勝戦を行います。 U-30クラスは、地域予選を行わず決勝戦のみを行います。

テスト設計コンテストについて詳しくは、以下のサイトをご覧下さい。

http://aster.or.jp/business/contest.html

U-30クラス　チュートリアル

このチュートリアルでは、テストすべきこととは何か、を考えるところから始まり、抜け漏れを防ぎ、テストの全体像を組み立てるということについて易しく解説していきます。 なお、本チュートリアルは初心者向けの内容となっていますが、参加資格に制限はありません。 テストについて今一度振り返ってみたい方も多くのヒントを得ることができるでしょう。 多くの方々のご参加をお待ちしています。

資料およびチュートリアル詳細 U-30クラスのチュートリアルの詳しい内容の確認、チュートリアル資料のダウンロードは、 ASTERのWebサイトからお願いします。

http://aster.or.jp/business/contest/tutorialu30.html

タイムテーブル

※本チュートリアルは、「【U-30クラス】テスト設計コンテスト'20 東京チュートリアル」のビデオ上映となります。

注意事項

参加できなくなった場合は、キャンセルをお願いします。

このチュートリアルは「U-30クラス」を対象としております。

「OPENクラス」のチュートリアルは、同日に開催します。

会場に電源は準備しておりません。

https://connpass.com/event/157926/