NI 半導体開発・量産向けエンタープライズ・ソフトウェア

概要

この度、NI社では半導体開発及び量産におけるさまざまな問題に対してデータを効率良く収集・解析するためのソリューションセミナーを実施いたします。本セミナーは半導体のお客様の直面する問題に対してデータを使用して解決を行う使用実例を紹介し、お客様のさらなる業務効率向上へお役立ていただきたく企画いたしました。
弊社オフィスでの対面でのセミナーとなりますが多くのお客様にご参加いただきご興味をお持ちいただければ幸いです。

タイムスケジュール

※ 当日予告なく時間配分・内容が変更になる可能性がございます。

プログラムのご紹介

「半導体ラボを効率的に管理するプラットフォームの紹介」

NI社では、半導体のバリデーション工程において、ModernLab Frameworkを活用することで、現代ラボの検証工程の複雑化による時間ロスやコストを削減し、より効率的にラボを管理するソリューションを提供しています。
このセミナーでは、現代のラボで発生する課題と原因を明確にし、解決策となる中央プラットフォームでのテスト、データ、システム、資産管理方法をご紹介いたします。

「機械学習を利用したウェハ不良パターン分類機能の紹介」

NI社では、半導体製造工程の異常分析をサポートするソリューションの一つとして、過去履歴を機械学習させて生成したモデルを基に、半導体ウェハのテスト不良パターンを自動判別するツールを開発しております。
本セッションでは、機械学習による分類モデルの生成や実際の判定処理の動き、及び処理結果の事例をご紹介いたします。

「半導体のテスト・組立工程におけるデータの体系的管理と活用事例の紹介」

NIでは、半導体のテスト工程において、チップIDを活用することで、異なるテスタ、工程、ファシリティで実行されたテスト結果を紐づけ、歩留向上や品質改善につながる解析方法を提供しています。
本セミナーでは、テスト工程のデータに加え、組立工程や外観検査工程の情報をデータベースに取り込み、より体系的にデータを管理・活用するための新しい仕組みとそれを使った解析の事例をご紹介いたします。

参加費

無料

注意事項

• キャンセル待ち・補欠・落選の方はご参加いただくことが出来ませんのでご了承ください。
• 欠席される場合は、お手数ですが速やかにキャンセル処理をお願い致します。