

(株)日立ハイテク
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「0.000000001メートル」の極小世界!?ナノレベルの画像解析を実現...
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| 参加枠 | 申込形式 | 参加費 | 参加者 |
|---|---|---|---|
一般枠 | 先着順 | 無料 | 358人 / 定員400人 |
AIモデルを使えるだけでは、現実の産業課題は解けません。
AIの進化により、さまざまな産業で課題解決が期待されています。その実現に向けて注目されるのが、産業装置そのものにAIを組み込み、現場で高度な処理や判断を行う「エッジAI」です。
しかし、優れたモデルを選ぶだけでは、AIを実際の産業現場で使える状態にはできません。精度や処理速度はもちろん、限られた計算資源、データの取り扱い、装置との連携など、現場特有の制約を超える必要があります。
その最前線の一つが、日立ハイテクが挑む半導体の計測・検査です。
・ナノレベルのわずかな違いを正しく捉える必要がある
・顧客のデータを自由に持ち出せない
・学習データを集めるために、実機を長時間占有できない
・クラウドや外部サービスに頼れない閉域環境で動かし続ける必要がある
このような「普段のAI開発では出会いにくい厳しい制約」の中で、AIの可能性を最大限に引き出し、現場で使える技術にするには何が必要なのか。本イベントでは、日立ハイテクが向き合ってきた3つの壁を紐解きます。
① 精度の壁:限られた学習データや計算資源の中で、いかにナノレベルの寸法を正しく測るか。
② 現場適応の壁:実機を自由に使えない環境で、いかに新しい計測対象へ素早く適応させるか。
③ 信頼性の壁:未知のデータや想定外の条件に対し、AIをいかに「信頼して使える技術」にするか。
正解のない制約にぶつかったとき、エンジニアは何を考え、どんな選択肢を比較し、どう突破してきたのか。
実際の開発現場で直面した課題と試行錯誤を、最前線に立つエンジニア自身が語ります。そこには、モデルを使う・調整するだけでは味わえない、AIを現実世界で成立させるエンジニアリングの圧倒的な面白さがあります。
自分の技術と発想で、これまで解けなかった課題を解決したい。
そんな思いを持つエンジニアやそうしたエンジニアを志す学生の皆様に向けて、リアルな現場でのAI実装の知見が、将来的な「フィジカルAI」の実現にどう繋がっていくのか、今後の展望も含めてお話しします。
■以下のような方におすすめ:
・AI・機械学習を活用した開発・実装経験がある方
・既存モデルの活用にとどまらず、要件や制約に応じた技術判断まで踏み込みたい方
・PoCだけでなく、AIを実際の産業・現場で使える状態まで届けることに興味がある方
・AI・ソフトウェアの経験を、より難しい現実の技術課題に活かしたい方
※半導体領域の知識は不問です
※配信URLは、申込者に対し本ページ上「参加者へのお知らせ」にて当日までに表示されます。
| 時間 | 内容 |
|---|---|
| 19:00-19:05 |
オープニング司会(TECH PLAY)
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| 19:05-19:15 |
半導体計測装置×AIによる製造現場の変革豊田 康隆
最先端半導体の製造現場では、ナノメートルオーダーの製造精度と24時間稼働する量産ラインを支えるため、人の経験だけでは解決できない課題が増え続けています。本講演では、半導体計測装置へのAI適用に挑んできた10年以上の歩みを振り返りながら、AIを現場で実際に動かし続けるために必要だった技術的意思決定と、その先に見据えるフィジカルAIの未来をご紹介します。
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| 19:15-19:25 |
半導体計測装置×AIで挑む「精度とスピード」の壁笹澤 秀明
半導体の微細化が進むほど、計測にはより高い精度とより速い処理速度の両立が求められます。しかし、その二つは本来トレードオフの関係にあります。本講演では、半導体計測における課題構造を解説するとともに、AIを製造現場へ導入する中で直面した「精度」「現場適応」「信頼性」という3つの壁をご紹介します。
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| 19:25-19:40 |
第1の壁:ナノメートルオーダーを正しく測るAIへの挑戦周 航旭
最先端のAIを導入すれば、計測精度も向上する。私たちも最初はそう考えていました。しかし実際には、画像をきれいにするだけでは製造現場が求める精度には届きませんでした。本講演では、限られた条件の中で、いかにしてナノレベルの変化を正しくとらえることに挑んだのか、その試行錯誤をご紹介します。
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| 19:40-19:55 |
第2の壁:クラウドが使えない工場でのAI運用への挑戦元吉 隆広
半導体工場では、クラウドを自由に利用できず、データを自由に持ち出すこともできません。そのような環境で、AIを現場へ適応させ続けることは大きな課題です。本講演では、工場特有の制約の中で、AIを止めることなく進化させるために取り組んだ開発と運用の工夫をご紹介します。
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| 19:55-20:10 |
第3の壁:AIを信頼して使い続けることへの挑戦奥田 知之
どれほど高性能なAIでも、誤った判断を完全になくすことはできません。特に製造現場では、一度の判断ミスが大きな損失につながる可能性があります。本講演では、AIの誤推論リスクと向き合いながら、現場で安心してAIを使い続けるためにどのような仕組みを構築したのかをご紹介します。
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| 20:10-20:35 |
パネルディスカッション&質疑応答:AIモデルの先にある"エンジニアリング"を知る笹澤 秀明、周 航旭、元吉 隆広、奥田 知之、Bagard Hoel
精度・現場適応・信頼性の3つの壁を越えた設計判断を掘り下げます。フィジカルAI、閉域環境でのローカルLLM/RAG、装置×AI開発の面白さ、転職や若手の挑戦など、現場のリアルを本音で語ります。
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| 20:35-20:40 |
クロージング司会(TECH PLAY)
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※当日予告なく時間配分・内容が変更になる可能性がございます。






※半導体領域の知識は不問です
無料
※本動画は2026年3月13日に開催された日立ハイテク主催イベントのアーカイブ映像です。
今回の登壇者とは異なりますので、あらかじめご了承ください。
※参加を辞退する場合は、詳細ページより申込のキャンセルをお願いいたします。
※配信映像や音声は各自の通信環境に依存します。なるべく通信環境の良い状態で視聴ください。