「1nmの誤差も許されない」半導体工場で、AIを動かし続けるということ――クラウドが使えない現場で越えた3つの壁 - TECH PLAY

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「1nmの誤差も許されない」半導体工場で、AIを動かし続けるということ――クラウドが使えない現場で越えた3つの壁
2026/10/28(水)19:00 〜 21:00
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「1nmの誤差も許されない」半導体工場で、AIを動かし続けるということ――クラウドが使えない現場で越えた3つの壁

オンライン

参加枠

0人/定員200人
募集: 〜
一般枠【先着順】無料
11人定員200人

基本情報

日時
〜
開催形式
オンライン
共催
TECH PLAY

イベント内容

概要

AIモデルを使えるだけでは、現実の産業課題は解けません。
モデルを選ぶ。精度を高める。アプリケーションに組み込む。しかし、AIを実際の産業現場で使える状態にするには、その先にあるさまざまな制約を越える必要があります。

「モデルを使う・調整する」だけではなく、要件や制約に応じて自ら技術を選び、AIを現場で成立させるところまで踏み込みたい。
そんなエンジニアにとって、半導体の現場には、普段のAI開発では出会いにくい技術課題があります。

日立ハイテクがAIを実装する半導体の計測・検査では、1nmレベルの誤差も看過できません。
顧客のデータを自由に持ち出せない。
学習データを集めるために、実機を長時間占有できない。
そして、クラウドや外部サービスに頼れない閉域環境で、AIを動かし続ける必要があります。

つまり、モデルをつくるだけでは、AIは現場で使える技術にはなりません。限られたデータと時間の中で、いかに1nmレベルの精度を実現するのか。
クラウドに頼れない環境で、いかに新しい対象へ素早く適応させるのか。
AIを、いかに信頼して使える技術にするのか。

イベントでは、日立ハイテクが向き合ってきた、こうした3つの壁を紐解きます。

① 精度の壁: 限られた条件の中で、いかに1nmレベルの計測精度を実現するか。
② 現場適応の壁:クラウドに頼れない環境で、いかに新しい計測対象へ素早く適応させるか。
③ 信頼性の壁: AIを、いかに「信頼して使える技術」にするか。

正解のない制約にぶつかったとき、エンジニアは何を考え、どんな選択肢を比較し、何を選び、どう突破してきたのか。
その試行錯誤から、AIを現実の中で成立させ、動かし続けるエンジニアリングの面白さに迫ります。

※配信URLは、申込者に対し本ページ上「参加者へのお知らせ」にて当日までに表示されます。

タイムスケジュール

時間内容
19:00-19:05

オープニング

司会(TECH PLAY)
19:05-19:15

半導体計測装置×AIによる製造現場の変革

豊田 康隆
最先端半導体の製造現場では、ナノメートル単位の精度と24時間稼働する量産ラインを支えるため、人の経験だけでは解決できない課題が増え続けています。本講演では、半導体計測装置へのAI適用に挑んできた10年以上の歩みを振り返りながら、AIを現場で実際に動かし続けるために必要だった技術的意思決定と、その先に見据えるフィジカルAIの未来をご紹介します。
19:15-19:25

半導体計測装置×AIで挑む「精度とスピード」の壁

笹澤 秀明
半導体の微細化が進むほど、計測にはより高い精度とより速い処理速度の両立が求められます。しかし、その二つは本来トレードオフの関係にあります。本講演では、半導体計測における課題構造を解説するとともに、AIを製造現場へ導入する中で直面した「精度」「現場適応」「信頼性」という3つの壁をご紹介します。
19:25-19:40

第1の壁:1nm精度を実現するAIへの挑戦

周 航旭
最先端のAIを導入すれば、計測精度も向上する。私たちも最初はそう考えていました。しかし実際には、画像をきれいにするだけでは製造現場が求める精度には届きませんでした。本講演では、限られた条件の中で、いかにして1nmレベルの計測精度へ挑んだのか、その試行錯誤をご紹介します。
19:40-19:55

第2の壁:クラウドが使えない工場でのAI運用への挑戦

元吉 隆広
半導体工場では、クラウドを自由に利用できず、データを自由に持ち出すこともできません。そのような環境で、AIを現場へ適応させ続けることは大きな課題です。本講演では、工場特有の制約の中で、AIを止めることなく進化させるために取り組んだ開発と運用の工夫をご紹介します。
19:55-20:10

第3の壁:AIを信頼して使い続けることへの挑戦

奥田 知之
どれほど高性能なAIでも、誤った判断を完全になくすことはできません。特に製造現場では、一度の判断ミスが大きな損失につながる可能性があります。本講演では、AIの誤推論リスクと向き合いながら、現場で安心してAIを使い続けるためにどのような仕組みを構築したのかをご紹介します。
20:10-20:35

パネルディスカッション&質疑応答:1nmの現場でAIを動かすエンジニアリングのリアル

笹澤 秀明、周 航旭、元吉 隆広、奥田 知之、Bagard Hoel
精度・現場適応・信頼性の3つの壁を越えた設計判断を掘り下げます。フィジカルAI、閉域環境でのローカルLLM/RAG、装置×AI開発の面白さ、転職や若手の挑戦など、現場のリアルを本音で語ります。
20:35-20:40

クロージング

司会(TECH PLAY)

※当日予告なく時間配分・内容が変更になる可能性がございます。

登壇者

豊田 康隆
モノづくり・技術統括本部 ソフトウェア設計本部 AIシステム統合部
部長
日立製作所の研究所で半導体製造向けAI技術の研究開発を立ち上げ、研究チームを率いる。2020年より日立ハイテクにて研究成果の製品化・事業化を主導し、AIソリューション事業の立ち上げを牽引。現在はAI開発組織を統括し、技術と事業の両面から事業成長をリードしている。
笹澤 秀明
モノづくり・技術統括本部 ソフトウェア設計本部 AIシステム統合部
統括主任技師
日立製作所の研究所での検査・計測技術開発を経て、2014年より日立ハイテクにて新事業製品開発を主導。現在は半導体検査・計測装置向けAIソリューションの開発と事業化を推進するとともに、技術戦略の立案や組織横断での技術活用をリードしている。
周 航旭
モノづくり・技術統括本部 ソフトウェア設計本部 AIシステム統合部
2025年に日立ハイテクへ新卒入社し、半導体検査・計測装置向け画像処理技術の研究開発に従事。入社直後からAIを活用した画像ノイズ低減プロジェクトに参画し、AIモデルの構築・評価を通じて、より高精度な寸法計測の実現に挑戦している。
元吉 隆広
モノづくり・技術統括本部 ソフトウェア設計本部 AIシステム統合部
技師
電機メーカ系企業にて人工衛星画像処理ソフト開発に従事。2021年に日立ハイテクへ入社し、半導体検査装置向けAIソリューションの製品開発を担当。顧客先でのAIモデル運用の課題に向き合い、AIの継続的な活用を支える開発・運用基盤の変革に取り組んでいる。
奥田 知之
モノづくり・技術統括本部 ソフトウェア設計本部 AIシステム統合部
主任技師
航空測量企業にて自動車型道路計測システムの開発に従事。2021年に日立ハイテクへ入社し、半導体計測検査装置向けAIソリューションの新規開発を担当。高精度AIであっても避けられない未知データでの誤推論に「安全弁」をかける役割を担当。ラインを絶対に止めない監視基盤の設計・現場実装を進めている。
Bagard Hoel
モノづくり・技術統括本部 ソフトウェア設計本部 AIシステム統合部
技師
AI画像処理・ディープラーニング製品を手がけるスタートアップにてAIアプリケーション開発に従事。2023年に日立ハイテクへ入社し、開発効率向上を担当。フルスタックで培った幅広い技術経験を活かしながら、開発現場の生産性課題に向き合い、開発文化の変革に取り組んでいる。

参加対象

  • AI・機械学習を活用した開発・実装経験がある方
  • 既存モデルの活用にとどまらず、要件や制約に応じた技術判断まで踏み込みたい方
  • PoCだけでなく、AIを実際の産業・現場で使える状態まで届けることに興味がある方
  • AI・ソフトウェアの経験を、より難しい現実の技術課題に活かしたい方

※半導体領域の知識は不問です

参加費

無料

前回の日立ハイテク主催イベント

※本動画は2026年3月13日に開催された日立ハイテク主催イベントのアーカイブ映像です。
今回の登壇者とは異なりますので、あらかじめご了承ください。

参加にあたっての注意事項

※参加を辞退する場合は、詳細ページより申込のキャンセルをお願いいたします。
※配信映像や音声は各自の通信環境に依存します。なるべく通信環境の良い状態で視聴ください。