測定しながらアナログ回路技術を磨く。高精度１４ビット／ＤＣ〜１０ＭＨｚ、オシロ、ネットアナ、スペアナ＆ＤＤＳ＋グレードアップ回路術を満載。

★目次 ◎Introduction ●第1章　Analog Discoveryで便利な測定環境を作り上げる 1.1　Analog Discoveryとは 1.2　機能・性能を補う自作アダプタも作れる 1.3　アナログ信号入力部の使い方 1.4　使いやすい測定用ケーブルを準備しておく [コラム(1)] WaveFormsのデータ収録用メモリ配分 ◎高精度14ビットでDC～10MHzをカバーする ●第2章　高機能ディジタル・オシロ…Scope活用法 2.1　波形観測のあらまし 2.2　信号測定のコモンセンス…同軸ケーブルとパッシブ電圧プローブの特性 2.3　ADのアナログ入力回路を理解する 2.4　繰り返し波形を止めて表示するトリガ機能 2.5　Scopeの豊富なトリガ機能 2.6　Averageの使い方 2.7　Oversによる高速波形の観測 2.8　グラフやデータが同時表示できる ◎ファンクション・ジェネレータ+AM/FM変調信号源 ●第3章　高機能DDS信号発生器…Wavegen活用法 3.1　信号発生器のあらまし 3.2　Wavegenの出力の特性を改善しておく 3.3　Wavegenがもっている機能 3.4　Wavegenの特性を測ってみる [コラム(2)] データのばらつきを示す標準偏差と変動係数 3.5　Wavegenの変調波形 [コラム(3)] 変調によって生じる側波成分 ◎市販ファンクション・ジェネレータと肩を並べるために ●第4章　Wavegen出力ブースタの設計・製作 4.1　信号発生器Wavegenの性能 4.2　ブースタ・アンプの製作 4.3　出力ブースタの特性評価 [コラム(4)] 出力インピーダンスを50Ωにして定在波の発生を防ぐ ◎2相出力をベクトル合成して任意の位相信号を生成 ●第5章　Wavegen出力から3相交流を作る 5.1　3相交流のしくみ 5.2　Wavegenから3相出力を得るには 5.3　位相差の確認 [コラム(5)] 3相交流の利点 ◎オーディオ測定を高度化する ●第6章　Wavegen用ひずみ低減フィルタの設計・製作 6.1　ひずみは高域周波数を制限すれば低減できる 6.2　LPFの設計・製作 6.3　出力アッテネータの製作 6.4　中心周波数10kHzBPFの製作 6.5　多重帰還型アクティブLPFとBPFの製作 [コラム(6)] 多重帰還型アクティブ・フィルタのアレンジ法 ◎利得・位相-周波数特性測定を自動化する ●第7章　ネットワーク・アナライザ機能…Network活用法 7.1　ネットワーク・アナライザのあらまし 7.2　ADのNetwork設定詳細 7.3　トランス測定の予備知識 7.4　市販トランスを測定してみると 7.5　エミッタ共通アンプの利得・位相-周波数特性 7.6　セラミック・フィルタの特性測定 ◎信号の周波数成分を測定・分析する ●第8章　スペクトラム・アナライザ機能…Spectrum活用法 8.1　スペクトラム・アナライザのあらまし 8.2　スペアナの原理…2つの方式 8.3　Spectrumの使い方 [コラム(7)] 単一周波数成分の信号と雑音 [コラム(8)] FFTアナライザ窓関数の使い方 ◎スペアナ(Spectrum)の本格活用のために ●第9章　アンチエイリアスLPFの設計・製作 9.1　Spectrumで正しい結果を得るために 9.2　LPFのカットオフ特性による種類 9.3　アンチエイリアス・フィルタのためのLPF性能比べ 9.4　多重帰還型フィルタによるアンチエイリアスLPFの構成 9.5　LPFの抵抗・コンデンサを算出 [コラム(9)] フィルタ用抵抗・コンデンサを選ぶときの指針 9.6　5バンド・アンチエイリアスLPFの製作 [コラム(10)] LPFとプリアンプ ◎電子部品の回路特性とモデリングが基礎からわかる ●第10章ふるまい観測…Impedance活用法 10.1　インピーダンスの性質 10.2　インピーダンス測定のしくみ 10.3　Impedanceの起動 10.4　抵抗のSpiceモデルとADによる測定 10.5　コンデンサのSpiceモデルとADによる測定 10.6　コイルのSpiceモデルとADによる測定 10.7　トランスのSpiceモデルとADによる測定 [コラム(11)] 抵抗・コンデンサ・コイルの直並列合成値 10.8　水晶振動子のSpiceモデルとADによる測定 ◎ダイオード・トランジスタ・FETのI-V特性を調べる ●第11章　カーブトレーサ…Tracer活用法 11.1　カーブトレーサとは 11.2　AD Tracerの使い方と準備 11.3　アダプタを使用した測定例 11.4　外部増幅器を使用した測定例 ●Appendix　Analog Discoveryのキャリブレーション(校正) ・キャリブレーションの準備 ・トレーサビリティが重要な理由