データ分析で品質不良の原因を見つける~因果探索とは?基本とAI活用法をわかりやすく解説~

2024/05/15(水)13:00 〜 13:45 開催
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参加枠申込形式参加費 参加者
一般
先着順 無料 6人 / 定員100人

イベント内容

膨大なデータから原因を特定する「因果探索」とは?

製造・生産プロセスが複雑である場合、品質不良の原因を特定することは困難です。

しかし統計手法「因果探索」を使えば、多くの要因が絡み合っている場合でも、
データ間の因果関係を可視化することができます。
品質問題の原因を特定し、改善策の立案や配合量の調整などに繋げます。

本セミナーでは、現場でのユースケースを例に、因果探索の基礎からわかりやすく解説します。
AI活用法も紹介しますので、ぜひお気軽にご参加ください!

こんな方におすすめ

  • 膨大なデータから原因を見つけたい方
  • 生産技術・品質管理・研究開発を担当している方
  • AIを活用して不具合の原因を見つけたい方
  • 試験データの関係性を可視化したい方

このセミナーで学べること

  • 因果探索の基本
  • 品質不良を削減する活用例
  • 因果探索の始め方
  • ノーコードツールの活用法

登壇者

森川利啓

システムインテグレーション本部 営業部 課長

前職は機械設計を担当。ニュートラル株式会社設立と同時に入社し、現場知識を活かしてSI営業として従事.
2019年より営業部の課長としてNTech Predict販売チームをマネジメント。

山戸辰彦

システムインテグレーション本部 3Dエンジニアリングソリューション部 部長

AI予測・因果探索・予知保全ツール「NTech Predict」の開発責任者。
20年以上CAD/CAMの研究開発を行いながら、10年以上データサイエンスに携わる。
開発した突起検出ツールは特許取得。数億ポリゴン超のデータも軽快に表示操作できる「3DViewer」の開発責任者も務める。

参加費

無料

注意事項

  • リクルーティング、勧誘など、採用目的でのイベント参加はお断りしております。
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